Sistema TC compacto con resolución de submicrones

Un sistema nuevo de análisis de tomografía computarizada (TC) de alta resolución ha sido desarrollado con un diseño compacto, hecho específicamente para las necesidades especiales de la ciencia de materiales, micro-mecánica, electrónica, y aplicaciones biológicas.

El sistema TC nanotom, desarrollado por phoenix-x-ray Systems + Services Inc. (Anaheim, CA, EUA), es un sistema TC de nanofoco de 160 kV. El sistema muy compacto consta de una construcción con base en granito con un tubo de rayos-x de nanofoco de alto poder de 160 kV de rayos-x phoenix y un detector digital especial para alcanzar una resolución voxel de menos de 500 nm (0.5 micras). El detector totalmente digital tiene una resolución de 5 megapíxeles y una expansión del rango de medición para la resolución más alta posible.

El sistema puede evaluar muestras con diámetros de hasta 120 mm (4,7 pulgadas) y un peso hasta 1 kg (2,2 libras). La construcción especial de la puerta así como la fijación sofisticada de la muestra permite un posicionamiento simple y preciso de las muestras. El nanotom viene con el software nuevo de TC phoenix de rayos x, datos-x,. Este software suministra una operación fácil e intuitiva y requiere solo entrenamiento mínimo. La alta eficiencia de este software proporciona calidad excelente de imagen y reconstrucción de volumen en todo momento. Un grupo de PC disponible suministra reducción adicional de los tiempos de reconstrucción.

El sistema es particularmente adaptable para el examen de sensores tridimensionales (3D), muestras de mecatrónica complejas, componentes micro-electrónicos y muestras de material en cada tipo como materiales sintéticos, cerámica, materiales compuestos, muestras de roca y mucho más. phoenix-x-ray es un fabricante líder de sistemas de rayos-x de microfoco y nanofoco, tubos de rayos- x, y sistemas de TC.




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