Método de imagenología ayuda en el diagnóstico de enfermedades y lesiones
Por el equipo editorial de Hospimedica en Español
Actualizado el 08 Sep 2004
Los investigadores están trabajando para desarrollar un método nuevo de imagenología médica que determine la rigidez relativa del tejido blando, lo que puede ayudar al diagnóstico de la enfermedad y la lesión. Actualizado el 08 Sep 2004
"Las imágenes de la rigidez relativa pueden ser una herramienta diagnóstica importante para cosas como encontrar un tumor en el tejido blando o detectar la lesión tisular de un infarto”, declaró la Dra. Joyce McLaughlin, directora del Centro para Problemas Inversos y profesora de ciencias matemáticas en el Instituto Politécnico Rensselaer (Troy, NY, USA) de la Fundación Ford. "Nuestra meta es crear imágenes que muestran la rigidez tisular calculando en las variaciones de onda de corte en el tejido biológico”.
Después de estudiar los datos cotejados de un sistema basado en ultrasonido desarrollado por Mathias Fink del Laboratorio de Ondas y Acústica ESPI, de la Universidad de París VII, que mide la amplitud de las ondas de corte cuando pasan a través del tejido biológico, los científicos notaron que los cambios en la posición y la forma de los frentes de la onda cuando pasan a través del tejido les permiten hacer una imagen que puede ser utilizada como una herramienta diagnóstica.
La velocidad de la onda de corte puede ser más del doble en el tejido anormal o rígido, y el contraste alto ayuda a producir una imagen de buena calidad, según el Dr. McLaughlin. Los investigadores primero crearon un algoritmo para identificar la localización del frente mismo de la onda cuando pasa a través del tejido. Utilizando solamente esos datos, el grupo calculó la velocidad de la onda de corte en cada área del tejido y produjo una imagen de las variaciones de la rigidez.
"Nombramos lo que hemos desarrollado como el algoritmo del tiempo de llegada, y las imágenes iniciales que hemos creado usando este cálculo son muy prometedoras”, dijo el Dr.McLaughlin.
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Rensselaer Polytechnic Institute